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Test de circuits et de systèmes intégrés

Public ISBD Titre : Test de circuits et de systèmes intégrés Type de document : texte imprimé Auteurs : Christian Landrault, Directeur de publication, rédacteur en chef Mention d'édition : Editeur : Paris : Hermès Année de publication : 2004 Collection : Traité EGEM Sous-collection : Électronique et micro-électronique Importance : 325-IV p. Présentation : ill., couv. ill. Format : 25 cm ISBN/ISSN/EAN : 2-7462-0864-4 Prix : 115 EUR Note générale : Notes bibliogr. Index Langues : Français (fre) Catégories : [Thesaurus]Sciences et Techniques:Sciences:Physique:Electronique Mots-clés : Circuits intégrés  Systèmes enfouis Test de circuits et de systèmes intégrés [texte imprimé] / Christian Landrault, Directeur de publication, rédacteur en chef  . -   . - Paris : Hermès, 2004 . - 325-IV p. : ill., couv. ill. ; 25 cm. - (Traité EGEM. Électronique et micro-électronique) . ISBN : 2-7462-0864-4 : 115 EUR Notes bibliogr. Index Langues : Français (fre) Catégories : [Thesaurus]Sciences et Techniques:Sciences:Physique:Electronique Mots-clés : Circuits intégrés  Systèmes enfouis

Exemplaires

Cote	Section	Localisation	Code-barres	Disponibilité	Numero_inventaire
621.38 LCT	Electronique	Biblio-ENSAO	0000000385001	Exclu du prêt	4329